• 81 -65611579 021
  • تاریخ : شنبه 4 بهمن 1399
  • ساعت : 11 : 39

پلاسمای جفت شده القایی – طیف سنج جرمی (ICP-MS)

پلاسمای جفت شده القایی – طیف سنج جرمی (ICP-MS)

پلاسمای جفت شده القایی – طیف سنج جرمی (ICP-MS)


پلاسمای جفت شده القایی اولین بار توسط Houk در 1980 به عنوان منبع یونش طیف سنج جرمی استفاده شد. یون های تولید شده در پلاسما به یک محفظه خلاء طیف سنج جرمی با تجزیه گر چهار قطبی وارد می شود. اکثرا ICP استفاده شده در ICP-MS مشابه به آن هایی است که در ICP-AES استفاده می شود. بنابراین ممکن است تمامی روش های ورود نمونه در ICP-AES در مورد ICP-MS نیز بکار رود. مهپاشی پنوماتیک محلول نمونه از متداواترین روش های در ورود نمونه در ICP-AES و نیز ICP-MS است. جدول زیر مقادیر حد تشخیص سه روش تجزیه ای FAAS ، ICP-AES و ICP-MS را با یکدیگر مقایسه می کند. همانطور که در جدول قابل مشاهده است، مقادیر حد تشخیص ICP-MS دو تا سه مرتبه بزرگی کوچکتر از مقادیر حد تشخیص برای ICP-AES می باشد. 
پلاسمای جفت شده القایی – طیف سنج جرمی
پلاسمای جفت شده القایی – طیف سنج جرمی

فرم ارسال نظر